中国科学院自动化研究所RFID技术获得美国授权专利

来源:杏彩平台| 时间: 2019-02-07| 作者:杏彩|

可以理解的是,由中国科学院自动化研究所研究和发明的用于测试射频识别系统性能的方法和设备(PCT专利号:PCT / CN2010 / 002054、美国专利号:13 / 143,041)最近获得了授权。美国。该发明专利于2011年通过申请国际PCT途径申请于2011年进入美国。这是中国科学院自动化研究所通过国际PCT授权在美国获得的第一项专利。 。

本发明专利是一种用于高速运动电子标签射频应用系统性能的测试系统和方法,读写器的天线由读写器发送、频谱分析仪接收天线、待测电子标签、读卡器天线支架、读写器、频谱分析仪、控制计算机、驱动电机控制器、驱动电机、转盘、屏蔽、支持表由驱动电机驱动转盘,使待测电子标签固定在转盘上使用电子标签高速移动转盘的切线方向的速度模拟了电子标签在实际应用中的线性运动速度,因此科学的、可以反复评估电子标签的RFID应用系统的性能。高速运动。

中国科学院自动化研究所RFID技术获得美国授权专利

随着RFID应用规模的不断扩大以及RFID天线和阅读器种类的不断增加,为了在许多RFID阅读器和标签中为用户选择最合适的产品,需要RFID产品的性能。指标经过专门测试。在智能停车场、高速公路免费的实际应用中,RFID阅读器和标签之间存在快速的相对运动。在传统的高速运动状态下,RFID产品性能测试系统和方法具有较大的占地面积。、建设成本高。、实验过程不稳定。

针对传统方法的不足,该专利提出了一种高速运动状态下电子标签的RFID应用系统性能基准测试系统和方法,该系统和方法可以更好地恢复测试过程中的实际测试场景。为用户提供简单的、清除、有效的自动化测试工具和基准测试方法,可以在可重复的条件下快速评估RFID应用系统在高速运动应用场景下的性能,从而选择用户设备提供决策参考。RFID技术作为物联网的核心技术之一,具有广阔的应用前景和巨大的应用价值。 RFID性能测试设备和技术可为用户设备选择提供决策参考,这是RFID技术实际应用的基础。该专利提出的系统和方法可以为用户提供简单的、清除、有效的自动测试方法。这将有助于提升中国在RFID领域的自主创新能力,支持中国高科技产业和新兴产业的技术领域,并满足资金管理方式。

该专利已在中国和美国正式授权,提高了中国在RFID性能测试方面的竞争力,改善了中国RFID测试技术专利池,并为RFID国际测试标准的未来发展做出了重要贡献。

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